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Suscepteur de baril recouvert de SiC
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Suscepteur de baril recouvert de SiC

VeTek Semiconductor propose un ensemble complet de solutions de composants pour les chambres de réaction d'épitaxie de silicium LPE, offrant une longue durée de vie, une qualité stable et un rendement de couche épitaxiale amélioré. Notre produit tel que le suscepteur à baril revêtu de SiC a reçu des commentaires de position de la part des clients. Nous fournissons également une assistance technique pour Si Epi, SiC Epi, MOCVD, UV-LED Epitaxy, etc. N'hésitez pas à vous renseigner pour obtenir des informations sur les tarifs.

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Description du produit

VeTek Semiconductor est l'un des principaux fabricants, fournisseurs et exportateurs chinois de revêtements SiC et TaC. Adhérant à la recherche d'une qualité parfaite des produits, de sorte que notre suscepteur à baril revêtu de SiC ait été satisfait par de nombreux clients. Un design extrême, des matières premières de qualité, des performances élevées et des prix compétitifs sont ce que veut chaque client, et c'est aussi ce que nous pouvons vous offrir. Bien entendu, notre service après-vente parfait est également essentiel. Si vous êtes intéressé par nos services de suscepteurs en baril revêtus de SiC, vous pouvez nous consulter dès maintenant, nous vous répondrons à temps !


SiC Coated Barrel Susceptor Application Scenarios

Le suscepteur à baril à revêtement SiC VeTek Semiconductor est principalement utilisé pour les réacteurs LPE Si EPI

L'épitaxie de silicium LPE (Liquid Phase Epitaxy) est une technique de croissance épitaxiale de semi-conducteurs couramment utilisée pour déposer de fines couches de silicium monocristallin sur des substrats de silicium. Il s’agit d’une méthode de croissance en phase liquide basée sur des réactions chimiques dans une solution pour obtenir une croissance cristalline.


Le principe de base de l'épitaxie de silicium LPE consiste à immerger le substrat dans une solution contenant le matériau souhaité, à contrôler la température et la composition de la solution, permettant au matériau dans la solution de se développer sous la forme d'une couche de silicium monocristallin. 

sur la surface du substrat. En ajustant les conditions de croissance et la composition de la solution pendant la croissance épitaxiale, la qualité cristalline, l'épaisseur et la concentration de dopage souhaitées peuvent être obtenues.


SiC Coated Barrel Susceptor products

L'épitaxie silicium LPE offre plusieurs caractéristiques et avantages. Premièrement, elle peut être réalisée à des températures relativement basses, réduisant ainsi le stress thermique et la diffusion des impuretés dans le matériau. Deuxièmement, l’épitaxie de silicium LPE offre une uniformité élevée et une excellente qualité cristalline, adaptées à la fabrication de dispositifs semi-conducteurs hautes performances. De plus, la technologie LPE permet la croissance de structures complexes, telles que les multicouches et les hétérostructures.


Dans l'épitaxie de silicium LPE, le suscepteur en baril revêtu de SiC est un composant épitaxial crucial. Il est généralement utilisé pour maintenir et supporter les substrats de silicium requis pour la croissance épitaxiale tout en assurant un contrôle de la température et de l'atmosphère. Le revêtement SiC améliore la durabilité à haute température et la stabilité chimique du suscepteur, répondant ainsi aux exigences du processus de croissance épitaxiale. En utilisant le suscepteur à baril revêtu de SiC, l'efficacité et la cohérence de la croissance épitaxiale peuvent être améliorées, garantissant ainsi la croissance de couches épitaxiales de haute qualité.



Propriétés physiques de base du revêtement CVD SiC


Propriétés physiques de base du revêtement CVD SiC
Propriété Valeur typique
Structure cristalline Phase β FCC polycristalline, principalement orientée (111)
Densité 3,21 g/cm³
Dureté Dureté Vickers 2500 (charge de 500 g)
Taille des grains 2~10μm
Pureté chimique 99,99995%
Capacité thermique 640 J·kg-1·K-1
Température de sublimation 2700 ℃
Résistance à la flexion 415 MPa RT 4 points
Module de Young Courbure 430 Gpa 4pt, 1300℃
Conductivité thermique 300W·m-1·K-1
Expansion thermique (CTE) 4,5×10-6K-1


STRUCTURE CRISTALLINE DU FILM CVD SIC


CVD SIC COATING FILM CRYSTAL STRUCTURE


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